В «Сириусе» прошёл Международный форум «Два дня патентной аналитики», в котором приняли участие студенты МГТУ им. Н.Э.Баумана
На форуме обсуждались потребности бизнеса и лучшие практиках в области современной патентной аналитики от ведущих российских и зарубежных экспертов и топ-менеджеров отраслевых компаний.
В мероприятии приняли участие студенты и сотрудники МГТУ:
Василий Сегалов, Анна Покровская, Татьяна Галушко, Данил Богданов — магистры кафедры ЮР (они обучаются по уникальной программе «Управление интеллектуальной собственностью»);
Герман Янгалин — студент факультета РКТ;
Алексей Подчуфаров — выпускник МГТУ, сотрудник кафедры ЭМ;
В качестве лектора выступала Дарья Павликова — аналитик проектного офиса ФИПС, магистр кафедры ЮР.
В первый день форума были проведены лекции-интенсивы на тему основ патентной аналитики, а во второй день участников поделили на группы, в которых они занимались разработкой патентного ландшафта и затем защищали свои проекты.
Благодаря наличию патентного ландшафта можно предсказывать рынок, а для стартапов будет плюсом разрабатывать его для той сферы, в которой стартап развивается, это может сильно помочь в получении больших инвестиций.
По итогам защиты Герману Янгалину предложили стажировку в Федеральном институте промышленной собственности (ФИПС). Напомним, что Герман обучается только на первом курсе.