Программа позволяет обработать цифровые данные фотографий топологии кристаллов интегральных микросхем, в частности при их дефектоскопии и может быть использована для оценки показателей качества поставляемых партий ИС и приборов. Программа может быть использована, например, для автоматизированного накопления статических данных об уровнях качества изготовления микросхем, а также для использования данных результатов отбраковки при прогнозировании наиболее вероятного срока активного функционирования поставляемых партий. Классификационная дефектоскопия поможет снизить степени риска комплектования радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) ИС и приборов, не соответствующих требованиям к их конструктивно-технологическому исполнению.